反射式膜厚測量儀在薄膜厚度測量的應用

  使用臺階儀或其他萬分尺長度量測儀器，單層能到到準確的數值，操做簡單，多層不能直接測量，要做出相對厚度，有臺階的樣品或其他才可以測量。

  使用我們反射式膜厚測試，直接根據材料特性（單層/多層）設置好菜單，通過標準硅片校準后，直接一鍵量測，直接測量出單層/多層膜厚，不會對產品造成損傷，可以離線也可以在線量測。測量多層膜厚基本上不需要單獨制樣，只是在解析某一膜層折射率（材料庫無信息）時有初次制樣需求。

  反射式膜厚測量儀可用于測量：半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。可測量：2nm到3000μm的膜厚，測量精度達到0.1nm。 在折射率未知的情況下，還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。此外，設備也可用于準確測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1mm以內。
  進行測量簡單可靠，實際測量采樣時間低于1秒。

  配合我們的專*軟件進行手動測量，每次測量時間低于5秒。軟件支持50層膜以內的模型并可對多層膜厚參數進行測量。我們軟件擁有近千種材料的材料數據庫，同時支持函數型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。

  同時，客戶還可以通過軟件自帶數據庫對材料，菜單進行管理并回溯檢查測量結果。